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產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

光譜系統

光探測磁共振譜超快瞬態吸收拉曼光譜熒光光譜顯微缺陷膜厚半導體晶圓缺陷檢測儀高光譜測試系統太陽能電池量子效率太陽光模擬器IV系統顯微光電流成像系統探測器光響應度系統光譜變溫附件探針臺熒光系統組合熒光系統鏡頭透過率測試系統漫反射率測試系統反射、吸收率系統成像亮度計標準燈參考輻射定標電致發光系統常規發射光譜系統共聚焦拉曼光譜儀

便攜式拉曼光譜儀如何應對炭黑材料的在線分析表征

OmniFluo900系列穩態瞬態熒光光譜儀

OmniFluo900系列熒光光譜儀擁有穩態熒光和瞬態熒光光譜儀兩大系列產品。本系統以高性能Omni-λ 系列單色/光譜儀、高亮度復色光源及多波長單色光源、高靈敏度單光子探測器和大容量樣品室為主要核心部件，配合精心優化的激發與發射光路設計，顯著地提高了熒光信號探測的靈敏度，純水拉曼信噪比可達10,000：1 以上。

更新時間：2025-07-29

產品型號：

瀏覽量：98
高速相位差測量裝置 RE-200

● 可測從0nm開始的低（殘留）相位差 ● 光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.) （相當于世界jie最zui快速的0.1秒以下來處理） ● 無驅動部，重復再現性高 ● 設置的測量項目少，測量簡單 ● 測量波長除了550nm以外，還有各種波長 ● Rth測量、全quan方位角測量（需要option的自動旋轉傾斜治具 ● 通過與拉伸試驗機組合，可同時評價膜的偏光特性和光弾性 (本系統屬特注。）

更新時間：2025-07-24

產品型號：

瀏覽量：984
高速LED光學特性儀 LE series

●與產線的控制信號同步 ●通過光纖的自由的測試系統 ●實現最短2ms～的光譜測量（LE-5400） ●同以往的產品相比，測量演算評價1個周期有可到半分鐘以下的高速機型

更新時間：2025-07-24

產品型號：

瀏覽量：862
高靈敏度近紅外量子效率測量系統 QE-5000

可以測量0.01%或更低的單線態氧的產生量子產率。單線態氧 (1270 nm) 的簡單直接光譜觀察可在用于生物應用等的水性溶劑中測量。

更新時間：2025-07-24

產品型號：

瀏覽量：934
高感度分光輻射亮度計 HS-1000

采用具有高亮度和色度精度的光譜方法（衍射光柵）， 0.005cd / m 2的超低亮度到400,000cd / m 2的高亮度都可測量，對應CIE推薦的寬波長范圍（355 nm至835 nm）獨du特光學系統降低偏振誤差（1％），并且像LCD一樣具有偏振特性的樣品也可以進行高精度測量可以執行最短1秒的高速測量，包括通信時間。（在連續測量的情況下，可以更快的進行測量，最短約20毫秒/次）

更新時間：2025-07-24

產品型號：

瀏覽量：953
量子效率測量系統 QE-2100

測量精度高可瞬間測量絕對量子效率（絕對量子收率）可去除再激勵熒光發光采用了積分半球unit，實現了明亮的光學系統

更新時間：2025-07-24

產品型號：

瀏覽量：1273