高感度分光輻射亮度計 HS-1000

產品簡介
采用具有高亮度和色度精度的光譜方法（衍射光柵），
0.005cd / m 2的超低亮度到400,000cd / m 2的高亮度都可測量，
對應CIE推薦的寬波長范圍（355 nm至835 nm）
獨du特光學系統降低偏振誤差（<1％），
并且像LCD一樣具有偏振特性的樣品也可以進行高精度測量
可以執行最短1秒的高速測量，包括通信時間。
（在連續測量的情況下，可以更快的進行測量，最短約20毫秒/次）

產品型號：

更新時間：2025-07-24

廠商性質：生產廠家

訪問量：954

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產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

光譜系統

光探測磁共振譜超快瞬態吸收拉曼光譜熒光光譜顯微缺陷膜厚半導體晶圓缺陷檢測儀高光譜測試系統太陽能電池量子效率太陽光模擬器IV系統顯微光電流成像系統探測器光響應度系統光譜變溫附件探針臺熒光系統組合熒光系統鏡頭透過率測試系統漫反射率測試系統反射、吸收率系統成像亮度計標準燈參考輻射定標電致發光系統常規發射光譜系統共聚焦拉曼光譜儀

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顯微分光膜厚儀是結合顯微鏡與分光光度技術的高精度薄膜厚度測量儀器

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顯微分光膜厚儀是一種高精度的測量儀器

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產品信息

測量項目

-輻射率（W / sr / m 2）                     – 色域(NTSC比率)* 1
– 亮度（cd / m 2）                              – 響應速度* 2
– 色度坐標xy [符合CIE 1931]           – 明度（J）* 3
– 色度坐標U’V'[CIE 1976兼容]           – 亮度（Q）* 3
– 色度坐標U’V'[符合CIE 1976]         – 飽和度(s)* 3
– 相關色溫   – 色度（C）* 3
– CIE顏色系統2°/ 10°           – 色彩（M）* 3
– 三刺激值XYZ  – 等效亮度值* 4
– 偏差
– 光譜數據的算術運算
– 光譜數據的功能處理
* 1選項
* 2使用HS-1000 RT
* 3符合CIECAM 02標準時
* 4 CIE 200：符合2011標準時

用途：

LCD、PDP、有機EL，大屏幕LED等的視覺光譜數據•亮度•色度•相關色溫測量
照明光源的光譜數據，例如燈•亮度•色度•相關色溫測量
作為各種亮度/色度測量儀器的參考設備
對非接觸式物體的顏色測量

規格式樣

	HS-1000
測色方式	分光方式
波長范圍	355 nm ~ 835 nm / 330 nm ~ 1100 nm
量測角	0.1°、0.2°、1°、2°
測量距離※	24 0mm ~ ∞
測量面積直徑視野角2°	約10.0m m以下
測量面積直徑視野角1°	約5.0mm 以下
測量面積直徑視野角0.2°	約1.0mm 以下
測量面積直徑視野角0.1°	約0.5mm 以下
輝度精度	± 2%
色度精度	± 0.002 以下
尺寸	187(W) × 249(H) × 400（D) mm 以下
重量	約7.5kg 以下