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產(chǎn)品中心半導(dǎo)體材料測試橢偏拉曼AFM拉曼光譜分析
產(chǎn)品簡介
拉曼光譜用來測試材料應(yīng)力，摻雜濃度和sheet& pattem等。從散射光的能量轉(zhuǎn)移，強(qiáng)度和偏振等方面可以獲取樣品豐富信息,如:結(jié)晶取向，組分，機(jī)械應(yīng)力，摻雜和溫度變化等。
產(chǎn)品分類
上海波銘科學(xué)儀器有限公司成立于 2013 年，是一家專注于光學(xué)電學(xué)領(lǐng)域的創(chuàng)新型公司。我們致力于通過技術(shù)和服務(wù)為客戶提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品和服務(wù)，滿足不斷變化的市場需求。
上海波銘科學(xué)儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學(xué)機(jī)械和光學(xué)平臺(tái)、激光器、Edmund 光學(xué)元件、Newport 產(chǎn)品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學(xué)測試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級(jí)相機(jī)、Semilab 半導(dǎo)體測試設(shè)備及高低溫探針臺(tái)系統(tǒng)。經(jīng)過多年的發(fā)展，上海波銘科學(xué)儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產(chǎn)品和服務(wù)在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽(yù)度，客戶遍布全國。我們將繼續(xù)努力，不斷提升市場地位和影響力。
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