MHS400V-4P探針冷熱臺是一款專門針對半導體芯片研發、測試而設計的產品。這款探針冷熱臺擁有高精度的探針位移平臺，具有良好的真空性能和精準的溫控系統。

MHS-P600G探針冷熱臺是一款針對材料研究過程中變溫電學測試而設計的產品，可表征材料升溫和降溫階段，其電學性能隨溫度變化的特征。 熱臺可以搭配顯微鏡，光譜儀，XRD等光學設備。 MHS-P600G可以在-196℃~600℃之間快速且精準的控制樣品的溫度，實現樣品在氣密環境下的變溫光學觀察及測試。

PSM-LN2系列液氮高低溫探針臺能夠為半導體芯片的電學參數測試提供一個80K-800K高低溫真空測試環境，通過外接不同的電學測量儀器，可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及IV曲線等參數檢測，用于低溫真空環境下的芯片、晶圓和器件的非破壞性電學測試。

PSM-4K系列低溫探針臺是一款閉循環低溫探針臺，緊湊型及低振動的設計，能夠為半導體芯片的電學參數測試提供一個＜5K-350K高低溫真空測試環境，通過外接不同的電學測量儀器，可完成材料/器件的IV、CV、光學以及微波等參數檢測，實現低溫真空環境下的芯片、晶圓和器件的非破壞性電學測試。

廣泛用于圖象表征各種熱轉變過程，能夠直接用于觀察樣品在加熱或冷卻過程中的形態變化以及結晶過程中形狀、結構、顏色以及大小和數量的變化

BM600G-4P探針冷熱臺是一款針對半導體芯片研發，測試而專門設計的產品。熱臺擁有高精度的探針位移平臺。